일반적으로 마이크로-저항계, 저-LROM(저항 저항계) 또는 덕터 테스터({3}}라고도 하는 접촉 저항 테스터-는 일반적으로 마이크로{4}}옴(μΩ) ~ 밀리{5}}옴(mΩ) 범위의 매우 낮은 저항 값을 측정하도록 특별히 설계된 정밀 전기 기기입니다. 이는 주로 전기 접점 조인트, 커넥터 종단, 버스 바 연결, 케이블 조인트, 스위치기어 접점 및 용접 또는 볼트 체결 전류 전달 연결의 품질과 무결성을 평가하는 데 사용됩니다.{7}}
접촉 저항 측정의 근본적인 중요성은 줄의 법칙(P=I²R)에 있습니다. 낮은 전류 레벨에서 중요하지 않은 것처럼 보이는 매우 작은 저항 값 - -도 높은 부하 전류를 전달할 때 상당한 열 에너지를 생성할 수 있습니다. 예를 들어, 1,000A의 부하 전류를 전달하는 100μΩ의 접촉 저항은 해당 연결 지점에서 100W의 열 에너지를 지속적으로 방출하여 절연체, 커넥터 및 주변 구성 요소에 점진적인 열 손상을 초래합니다.
접촉 저항 테스터는 전력 유틸리티 유지 관리, 변압기 제조, 회로 차단기 테스트, 철도 기반 시설 유지 관리, 항공우주 품질 관리 및 산업용 배전반 시운전에 없어서는 안 될 도구입니다. - 통전 조인트의 저항이 지정된 최대 임계값 미만인지 확인해야 하는 -모든 응용 분야에 사용됩니다.
접촉 저항 테스터는 다음에서 작동합니다.켈빈 4{0}}선(4선) 측정 원리, 켈빈 감지 방법 또는 4{0}}단자 측정이라고도 합니다. 이 기술은 측정되는 마이크로-옴 값에 비해 허용할 수 없을 정도로 큰 측정 연결 자체의 리드 저항 및 접촉 저항 - 오류의 영향을 제거하므로 정확한 저-저항 측정에 필수적입니다.
4{0}}와이어 방식의 작동 방식:
현재 리드(C1, C2): 정밀하게 제어되는 DC 테스트 전류(일반적으로 기기 모델에 따라 10A ~ 600A 범위)가 2개의 전용 전류 전달 리드를 사용하여 테스트 중인 구성 요소를 통해 주입됩니다.{2}}
전압 리드(P1, P2): 2개의 별도의 고임피던스 전압 감지 리드가 테스트 중인 구성요소 전체(현재 리드 연결 지점 내부)에 직접 연결됩니다. 이 리드에는 전류가 거의 흐르지 않습니다.
계산: 기기는 부품 전체의 전압 강하(V)와 테스트 전류(I)를 동시에 측정한 다음 옴의 법칙을 사용하여 저항을 계산합니다.R = V / I. 전압 리드에는 무시할 만한 전류가 흐르기 때문에 해당 저항은 측정 결과에 영향을 미치지 않습니다.
높은 테스트 전류가 중요한 이유: 산화되거나 오염된 접촉 표면에서 정확한 접촉 저항 판독값을 얻으려면 높은 테스트 전류(100A 이상)를 사용하는 것이 중요합니다. 낮은 테스트 전류는 허용 가능한 저항을 갖고 있는 것처럼 보이지만 실제 부하 전류 조건에서는 파손되는 얇은 산화막에 의해 속일 수 있습니다.
